顆粒是組成材料的基本單元，影響材料的性能的不僅是顆粒的化學(xué)組成，顆粒的大小與顆粒的形態(tài)對(duì)材料的性能影響巨大，因此顆粒粒度與形態(tài)的檢測(cè)越來(lái)越受到各行業(yè)的重視。
 

　　目前檢測(cè)顆粒大小和顆粒形態(tài)的方法有多種，激光粒度分析儀、沉降粒度儀、電阻法粒度亦、顆粒圖像分析技術(shù)是常用的技術(shù)。
 

　　激光粒度分析儀、沉降粒度儀、電阻法粒度儀，只能檢測(cè)顆粒大小，不能檢測(cè)顆粒形狀;顆粒圖像分析技術(shù)具有操作簡(jiǎn)單，測(cè)試范圍廣，可靠，直觀(guān)可視，適用于各種固體顆粒。可以廣泛應(yīng)用于建材、化工、石油、金屬與非金屬、環(huán)保、輕工、等眾多領(lǐng)域的實(shí)驗(yàn)室和在線(xiàn)顆粒粒度與形狀分析。
 

　　顆粒圖像分析儀將是一種將現(xiàn)代電子技術(shù)與光學(xué)顯微鏡相結(jié)合而成的一種粉體顆粒物性檢測(cè)儀器。用電子攝像機(jī)拍攝經(jīng)顯微鏡放大的顆粒圖像。圖像信號(hào)輸入計(jì)算機(jī)后，計(jì)算機(jī)自動(dòng)進(jìn)行對(duì)顆粒進(jìn)行形貌特征和粒度進(jìn)行分析，給出測(cè)試報(bào)告。
 

　　顆粒圖像分析儀的基本原理：
 

　　光學(xué)顯微鏡首先將待測(cè)的微小顆粒放大，并成像在CCD攝像機(jī)的光敏面上;攝像機(jī)將光學(xué)圖像轉(zhuǎn)換成數(shù)字圖片信息，然后傳輸并存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)系統(tǒng)里。
 

　　計(jì)算機(jī)對(duì)接收到的數(shù)字化了的顯微圖像信息進(jìn)行二值化處理，識(shí)別顆粒的輪廓。然后按照一定的等效模式，計(jì)算各個(gè)顆粒的粒徑、圓度等物理參數(shù)。一般而言，一幅圖像(即圖像儀的一個(gè)視場(chǎng))包含幾個(gè)到上百個(gè)不等的顆粒。
 

　　圖像儀能自動(dòng)計(jì)算視場(chǎng)內(nèi)所有的顆粒的粒徑，并統(tǒng)計(jì)，形成粒度報(bào)告、圓度報(bào)告等。當(dāng)已經(jīng)測(cè)到的顆粒數(shù)不夠多時(shí)，可以通過(guò)調(diào)整顯微鏡的載物臺(tái)，換到下一個(gè)視場(chǎng)，繼續(xù)測(cè)試并累計(jì)。